https://repositorio.ufba.br/handle/ri/10686
Tipo: | Dissertação |
Título: | Medida de condutividade de semicondutores à baixa temperatura |
Autor(es): | Santos, Erick Santana dos |
Autor(es): | Santos, Erick Santana dos |
Abstract: | Neste trabalho realizamos a montagem experimental dos equipamentos necessários para medida da condutividade em baixa temperatura iniciando com a descrição teórica envolvida, seguido daapresentação dos equipamentos utilizados e métodos de medidas. Mostramos que o método para medir a condutividade usada geralmente, ométodo de van der Pauw, apresenta dificuldades quando se trata de efetuar a soldas dos contatos nas amostras, mas que se obtêm resultados satisfatórios com a sua utilização. Com a caracterização do óxido de estanho dopado pelo flúor (SnO2:F) obtemos resultados, a partir de uma descrição teórica desenvolvida, que não eram verificadas em medidas de condutividade em baixa temperatura. Verificamos também que a teoria existente se torna inadequada, quando se trata de semicondutores com alta concentração de impurezas. |
Palavras-chave: | Propriedades elétricas Física do estado sólido Semicondutores |
Editora / Evento / Instituição: | Programa de Pós-Graduação em Física da UFBA |
URI: | http://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/10686 |
Data do documento: | 2009 |
Aparece nas coleções: | Dissertação (PPGFIS) |
Arquivo | Descrição | Tamanho | Formato | |
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