https://repositorio.ufba.br/handle/ri/8705
Tipo: | Artigo de Periódico |
Título: | The refractive index enhancement at Si/Si O2 interfaces |
Título(s) alternativo(s): | Superlattices and Microstructures |
Autor(es): | Costa, E. A. Guimarães Mota, F. de Brito Silva, A. Ferreira da |
Autor(es): | Costa, E. A. Guimarães Mota, F. de Brito Silva, A. Ferreira da |
Abstract: | A polarization catastrophe is predicted for the refractive index of an inversion layer in a Si/Si O2 Metal - Oxide - Semiconductor Field-Effect Transition (MOSFET). The results detect a metal non-metal transition at a certain impurity critical concentration. |
URI: | http://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/8705 |
Data do documento: | 1993 |
Aparece nas coleções: | Artigo Publicado em Periódico (FIS) |
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